Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz [ Livre]
Language: anglais.Edition Statement: 3 ed.Publication: James M.Howe : Springer, Berlin, 2008Description: 744 p. ; 24 cmISBN: 9783540738855.| Item type | Current location | Call number | Status | Date due |
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Livre
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Bibliothèque Universitaire Mohamed Sekkat 2ème étage | 620.1 FUL (Browse shelf) | Exclu du prêt |
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Index p.745
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